UNE-EN IEC 60749-28:2022
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 28: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática. Modelo de dispositivo cargado- Nivel de dispositivo. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2022.)
| Fecha edición: |
2022-05-01
En Vigor
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| Fecha de confirmación: | 2025-12-15 |
| Fecha de ratificación: | 2022-05-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Anulaciones Normas |
Anula a UNE-EN 60749-28:2017 |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN IEC 60749-28:2022 Idéntica IEC 60749-28:2022 |
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