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UNE-EN IEC 60749-34-1:2025

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 34-1: Ensayo de ciclos de potencia para módulos semiconductores de potencia. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en septiembre de 2025.)

Fecha edición: 2025-09-01
En Vigor
Fecha de ratificación: 2025-09-01
Idiomas disponibles: Inglés
ICS: 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general
CTN: CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores

Equivalencia Internacional

Idéntica EN IEC 60749-34-1:2025

Idéntica IEC 60749-34-1:2025

El libro en palabras del autor

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