UNE-EN IEC 60749-37:2022
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de ensayo de caída a nivel de tarjeta para componentes usando un acelerómetro. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2023.)
| Fecha edición: |
2023-01-01
En Vigor
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| Fecha de confirmación: | 2025-12-15 |
| Fecha de ratificación: | 2023-01-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Anulaciones Normas |
Anula a UNE-EN 60749-37:2008 |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN IEC 60749-37:2022 Idéntica IEC 60749-37:2022 |
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