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UNE-EN IEC 60749-41:2020
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 41: Métodos de ensayo estándar de fiabilidad de dispositivos de memoria no volátiles (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)
| Fecha edición: |
2020-10-01
En Vigor
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|---|---|
| Fecha de ratificación: | 2020-10-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN IEC 60749-41:2020 Idéntica IEC 60749-41:2020 |
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