UNE-EN IEC 61967-8:2023
Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas. Parte 8: Medición de las emisiones radiadas. Método IC de líneas TEM de placas. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2023.)
| Fecha edición: |
2023-07-01
En Vigor
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| Fecha de ratificación: | 2023-07-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.200 - Circuitos integrados. Microelectrónica |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN IEC 61967-8:2023 |
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Otras Versiones Vigentes |
Conjunta UNE-EN 61967-8:2011 |
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